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X-射线荧光镀层厚度测试仪XDVM-u
技术参数:1.涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法,符合技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568; 2.测量箱结构坚固,使用合格的机械和电气部件; 3.测量箱外部尺寸
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XDVM-W X-射线荧光镀层厚度测试仪
技术参数:1.涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法,符合技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568; 2.测量箱结构坚固,使用合格的机械和电气部件; 3.测量箱外部尺寸
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测厚计 高精度橡胶测厚计
测厚计主要适用于测量橡胶、塑料等试样的厚度及均匀度。 测厚计技术参数:测程:0-10mm分度值:0.01mm工作台升降最大行程:40mm工作台外径: 70mm测头直径:6mm块规规格(厚度
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测厚计 高精度橡胶测厚计
量范围:0-10mm;分度值:0.01mm上测足直径:6±0.05mm 施加压力: 22±5Kpa所需质量:63±7g 上测足直径:6±0.05mm 施加压力: 22±5Kpa 量范围
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镀层厚度检测仪 Ux-700
结果的准确性。 X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。 Ux-700镀层测厚检测仪配备了
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X射线荧光膜厚仪XTU-40
产品简介: 微聚焦加强型X射线装置:可测试各类极微小的样品,即使检测面积为0.003mm²的样品也可轻松、精准检测 变焦装置及位置补偿算法:可对各种异性凹槽进行
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COSMOS-2X荧光X射线膜厚仪
【简单介绍】品牌其他品牌价格区间面议产地类别进口应用领域综合荧光X射线膜厚仪COSMOS-2X可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜、 二层同时
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数显测厚计
T0008数显测厚计,这款仪器特别用于测试制鞋材料的厚度。此款仪器压头直径为10mm,压力为1N,符合澳洲/新西兰对于制鞋皮革类材料测厚的标准要求。 应用:? 制鞋业 产品特点:? 压头压力
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EX-3000日本荧光X射线膜厚仪
【简单介绍】品牌其他品牌价格区间面议产地类别进口应用领域综合产品名称:日本荧光X射线膜厚仪 EX-3000可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜
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镀层测厚仪器 Ux-720
测厚技术:X射线荧光测厚技术 测试样品种类:金属镀层,合金镀层 测量下限:0.003um 测量上限:30-50um(以材料元素判定) 测量层数:10层 测量用时:30-120秒
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